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Texas Instruments
类型:
companies
引用论文:
13 篇
使用片上PLL优化跳变故障测试向量生成及其对压缩技术的影响
DFTCMax模块化实现：确保低面积开销与高测试质量
应对全芯片功耗感知功能验证的挑战——基于MVSIM的解决方案
SoC门级仿真（GLS）周期缩减——仿真流程加速器
基于ICC相对布局的流程实现45nm大型IP核最佳面积与频率
使用IC Compiler进行45nm高性能处理器设计
使用基于时序余量的动态桥接故障模型检测高阻桥接缺陷
利用形式等价方法实现快速精确的功耗估计
基于Slack的动态桥接故障模型检测高阻桥接缺陷
使用IC Compiler设计45nm高性能处理器
虚拟现实用于调制解调器软件开发——实现2.5G无线通信的流片前软件开发与验证
使用SpyGlass进行早期RTL可测试性和ATPG覆盖率分析：案例研究
使用 SpyGlass 进行早期 RTL 可测试性与 ATPG 覆盖率分析：案例研究
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